AAS - Atomska absorpcijska spektroskopija
Serija iCE 3000 AAS omogoča enostavno merjenje elementov v širokem razponu vzorcev. Plamenski razpršilni analizator je idealen za merjenje vzorcev z visoko koncentracijo, medtem ko grafitna peč doseže mejo zaznave do sub ppb. Dvojni opti...
Več o temOES - Optična emisijska spektrometrija
Optična emisijska spektrometrija (OES) z vzbujanjem obloka/iskre omogoča hitro elementarno analizo trdnih kovinskih vzorcev. Ta tehnika ustreza najzahtevnejšim analizam v kovinsko-predelovalni industriji, od nadzora proizvodnje do R&...
Več o temICP-OES - Spektrometrija z induktivno sklopljeno plazmo
Thermo Scientific ICP OES serije iCAP PRO odlikuje visoka zmogljivost in fleksibilnost ter omogočajo, da je vsak laboratorij pripravljen na vse nove izzive. Serija iCAP PRO omogoča hitre in enostavno pridobljene rezultate, pri tem pa zag...
Več o temICP-MS - Masna spektrometrija z induktivno sklopljeno plazmo
Inovativne rešitve ICP-MS podjetja Thermo Scientific so zasnovane tako, da ustrezajo potrebam katerega koli laboratorija, od visoko zmogljivih in rutinskih do najsodobnejših raziskovalnih. Z napredno zmogljivostjo za zanesljivo in natanč...
Več o temOEA - Organska Elementna Analiza
Instrumenti organske elementne analize zagotavljajo enostavnost uporabe, natančnost meritev in so stroškovno učinkoviti pri quantifikaciji ogljika, vodika, dušika, žvepla in kisika (CHNS/O). Zagotavljajo hitro, zanesljivo in natančno mer...
Več o temGD-MS - Masna spektrometrija z žarjenjem
Masni spektrometer z žarjenjem (GD-MS) je vrhunsko orodje za neposredno analizo trdnih snovi visoke čistosti, pa tudi polprevodnikov in keramičnih praškov, kot sta Al2O3 ali SiC. Aplikacije za globinsko profiliranje segajo od nanometra d...
Več o temXRF - Rentgenska fluorescenčna spektrometrija
Z XRF instrumenti dosežete hitro karakterizacijo in analizo materiala in s tem zagotovite izpolnjevanje specifikacij kemičnih izdelkov. Tehnologija rentgenske fluorescence (XRF) je zlati standard za natančno, nedestruktivno analizo eleme...
Več o temXRD - Rentgenska difrakcija
Rentgenska difrakcija (XRD) je popolna nedestruktivna analitična tehnika, ki omogoča hitro pridobivanje podrobnih informacij o fazah in strukturi kristalnih materialov. Analiza XRD daje visoko zmogljive rezultate v široki paleti industri...
Več o temXPS - Rentgenska fotoelektronska spektrometrija
XPS spektrometri so namenjeni napredni površinski analizi materialov. Povečano povpraševanje po visoko učinkovitih in kompleksnejših materialih povečuje tudi pomen analize površin. Ker je površina materiala točka interakcije z zunanjim o...
Več o temProgramska oprema za elementno analizo
Intuitivna uporabniku prijazna programska oprema, zasnovana za poenostavitev delovnega procesa in povečanje učinkovitosti – programska rešitev, ki omogoča enostavno rotacijo/spremembe s strani laboratorijskih tehnikov.
Več o temOprema za pripravo vzorcev pri elementni analizi
Pri elemntni analizi je zaželjeno, da je vzorec reprezentativen, homogen in primeren za analitično metodo, ki nas zanima. Ustrezna priprava vzorcev vodi do večje natančnosti in točnosti analize, krajšega časa analiziranja in nižje strošk...
Več o tem